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方塊電阻測試儀

簡要描述:

ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

 

該儀器以大規模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數,使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

特點:

1

 采用大規模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩定,低功耗;

2

 以大屏幕LCD顯示讀數,直觀清晰;

3

 采用單個電池供電,帶電池欠壓指示;

4

 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;

5

 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6

 探頭帶抗靜電模塊

技術指標:

 

測量范圍

 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔:
  1.方塊電阻 1.000~19.999Ω/□;
  2.方塊電阻 10.00~199.99Ω/□;
 最小分辨率:0.001Ω/□

恒流源

 測量過程誤差:≤±0.8%

模數轉換器

 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕顯示;極性,超量程均自動顯示;小數點同步顯示;

測量不確定度

 在整個量程范圍內,測量不確定度≤5%

四探針探頭規格

 間距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

電源

 使用一節450mAH的鋰電池

 

ST-21L方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格:

型號
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直線

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直線

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直線

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直線

 

SZ-ST-21L方塊電阻儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規格:

型號
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

 

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